温控器寿命测试台

温控器寿命测试台，是用于对突跳式温控器进行性能测试和寿命试验的专业设备。系统具有可视化程序重组界面，调整测试程序，根据测试程序生成测试信号，同时根据时序从温控器一侧采集相应的信号，以判定目标温控器的是否符合要求。
本系统是专业设备，具有测试准确，测试速度快，工人操作简单，支持16并行测量，通过标准化的数据对接接口，快速更换测试治具，支持多品种机型的自动测试，是温控器性能及寿命测试理想选择。

所属分类：

零部件性能测试系统

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产品描述

商品名称: 温控器寿命测试台

系统结构

本系统是高度集成化的实验室测试装备，分为测试机箱，工控机系统，测试治具，高温干燥箱，多路高温采集系统等。

测试机箱

测试机箱是测试系统的核心部件，它由机箱和2块相互独立的测试板卡组成，隔离强度2500V, 避免并行测试时，相互电压串扰。

板卡采用高性能ARM+FPGA结构，具有采集速度快，测试精度高的特点，通道经过严格校准验证。

工控机系统

系统带有工控机，测试软件，提供良好的界面，数据稳定可靠。

控制系统

机架控制系统，与测试系统有数据接口，控制触发自动测试启动，测试流程完成，并根据测试结果，触发盖章，指示功能。

测试治具

本系统要求治具采用专用的数据接口，专用治具框，测试温控器均放置在治具系统中，由于测试机与治具分离方案，容量最大为2*8位温控器测试，配以若干PT100温度探头组成，耐高温。

高温恒温箱

本恒温箱为温控器提供可程控的测试环境。采用具有超温偏差保护、微电脑PID温度控制器，带有定时功能，控温精准可靠，智能风道循环系统。

多路高温采集系统

本高温采集系统为对被各测温控器进行精确测温。具有多通道实时采集，实时通信功能。最大支持16路，其采集精度为±0.5℃。

温控器寿命测试台技术方案

序号	测试项目	测试内容或要求	测试方案
1	可控模拟环境温度	测试设备需实时采集温控器的测试设备通过温度调节模拟温控器的工作环境温度，可根据试验验要求选择加负载或不加负载进行试验	高温恒温箱+可编程通信
2	通断温度值	通断状态，并记录温控器动作和复位时的温度值	多路高温采集系统+VI+DI+通信+工控机
3	测量数量与温度误差	测试设备需满足至少16个温控器同时测试，并保证测试环境温场的一致性，不同测试工位的温度误差控制在±1℃。	2*8位+多路高温采集系统（最大支持16路）温度误差控制在±0.5℃
4	温升与温降	用于性能测试时，测试设备的温度调节功能应可实现升温速率的控制，控制精度1℃/min。用于寿命测试时，可自动设置循环周期时间，包括升温时间和降温时间，试验速度2~5次/min，	目前高温恒温箱加热从常温至250℃约为30~35分钟，高温区（100-200℃）降温约为4-5℃/min。
5	工作状态判定	循环周期内记录温控器的工作状态并进行合格与不合格的判定	VI+DI+通信+工控机+软件
6	高温恒温箱要求	加热器应具有体积小、加热速度快、使用寿命长的特点，温度调节范围RT+10℃-280℃。	外形尺寸：625540500mm；工作室尺寸：340330320mm；控温范围:RT+10~280℃
7	多款温控器可测	测试设备应适合对现有的多款温控器的寿命试验，以后增加新款温控器只需要更换夹具即可使用	可编程测试程序，温控器外形一致可通用；若不一致更换夹具即可使用。